|
تفاصيل المنتج:
|
| Receiving surface: | 1.1 × 1.1 mm | Package: | Metal |
|---|---|---|---|
| Package category: | TO-18 | Reverse voltage (Max.): | 5V |
| إبراز: | ثنائي الصور السيليكوني عالي الموثوقية,ضوئية السيليكون بالقرب من الأشعة تحت الحمراء,Near Infrared Silicon Photodiode |
||
وصف المنتج:
S1336-44BK الديود السيليكوني مناسب للقياس الضوئي الدقيق من الأشعة فوق البنفسجية إلى الأشعة تحت الحمراء القريبة مع موثوقية عالية
الخصائص:
مناسبة للقياس الضوئي الدقيق في الأشعة فوق البنفسجية إلى الأشعة تحت الحمراء القريبة
الخصوصية
- حساسية عالية في النطاق فوق البنفسجي
- سعة منخفضة
- موثوقية عالية
سطح الاستقبال 3.6 × 3.6mm
المعدن المغلف
فئة الحزم إلى 18
نوع التبريد غير المبرد
الجهد العكسي (أكثر) 5 فولت
نطاق الاستجابة الطيفية 320 إلى 1100 نانومتر
طول الموجة الحد الأقصى للحساسية (القيمة النموذجية) 960 نانومتر
حساسية الضوء (القيمة النموذجية) 0.5A / W
التيار المظلم (ماكس.) 20 pA
وقت الارتفاع (القيمة النموذجية) 0.1μs
سعة التقاطع (عادة) 20 pF
الطاقة المكافئة للضوضاء (القيمة النموذجية) 5.7 × 10-15 واط/هرتز1/2
ظروف القياس القيمة النموذجية Ta = 25°C، ما لم ينص على خلاف ذلك.
الحساسية: λ = 960 نانومتر، التيار المظلم: VR = 10 mV، سعة التقاطع: VR = 0 V، f = 10 كيلو هرتز
المواصفات:
| نطاق الاستجابة الطيفية | 320 إلى 1100 نانومتر |
| طول الموجة الحد الأقصى للحساسية (القيمة النموذجية) | 960 nm |
| الحساسية الضوئية (القيمة النموذجية) | 0.5A /W |
| التيار المظلم (ماكس.) | 20 با |
اتصل شخص: Miss. Xu
الهاتف :: 86+13352990255
